Jump to content
החלפת מצב תפריט
שינוי מצב תפריט ההעדפות
החלפת מצב תפריט אישי
לא בחשבון
כתובת ה־IP שלך תהיה גלויה לציבור אם תעשה עריכות כלשהן.

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן

מתוך ויקיפדיה, האנציקלופדיה החופשית
קובץ:X-ray diffraction pattern 3clpro.jpg
דוגמה לתבנית עקיפה של קרני רנטגן שעברו דרך גביש

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגןאנגלית: X-ray crystallography) או עקיפה של קרני רנטגן (באנגלית: X-ray diffraction) היא תחום מחקר שעוסק במציאת מבנה של גבישים, תוך שימוש במדידת התבניות שיוצרות קרני רנטגן לאחר שהן עוברות דרכם. הקרניים עוברות עקיפה בתוך הגביש כתוצאה מהאינטראקציה שלהן עם האטומים, והן משנות את כיוון תנועתן. תבנית ההתאבכות הנוצרת מרמזת על המבנה הפנימי של החומר. באופן זה, השיטה מסייעת לקביעת מבנים מולקולריים ביצורים החיים, תוך הקניית ידע מבני על אתרים פעילים של אנזימים.

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן, בשיטות שלא השתנו הרבה מאז תחילת המאה העשרים, מהווה עד היום כלי מרכזי במדע הקריסטלוגרפיה. השיטה אפשרה תגליות רבות ומשמעותיות, למשל גילוי מבנה ה-DNA. אחד הצילומים הידועים ביותר שנעשה בשיטה זו הוא תצלום 51, צילום של DNA שהיה הגורם המכריע בגילוי המבנה שלו ונעשה על ידי רוזלינד פרנקלין בסוף 1952. חקר מבנהו ופעולתו של הריבוזום, עליו ניתן פרס נובל לכימיה לשנת 2009 לעדה יונת, ונקטרמן רמאקרישנן ותומאס סטייץ, נעשה אף הוא באמצעות קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן.

קישורים חיצוניים עריכה

ויקישיתוף מדיה וקבצים בנושא [[commons:Category:{{#property:P373}}|קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן]] בוויקישיתוף
קובץ:P physics.svg ערך זה הוא קצרמר בנושא פיזיקה. אתם מוזמנים לתרום לוויקיפדיה ולהרחיב אותו.
תוכן עניינים